Aehr Test Systems (AEHR)

Aehr Test Systems, fundada en 1977 y con sede en Fremont, California, se especializa en la provisión global de sistemas avanzados de burn-in y de prueba para circuitos integrados, que abarcan dispositivos de lógica, ópticos y de memoria. Su amplia gama de productos incluye las familias de soluciones de prueba y burn-in ABTS y FOX-P, complementadas por componentes especializados como el FOX WaferPak Aligner, el FOX-XP WaferPak Contactor, el FOX DiePak Carrier y el FOX DiePak Loader. El sistema ABTS está diseñado específicamente tanto para evaluaciones de producción como de cualificación de piezas empaquetadas, cubriendo una gama de dispositivos de lógica de baja y alta potencia, así como varios tipos de memoria. Para circuitos integrados más complejos como memorias, procesadores de señales digitales, microprocesadores, microcontroladores, sistemas en chip (SoC) y dispositivos ópticos integrados, los sistemas FOX-XP y FOX-NP facilitan el burn-in y las pruebas funcionales tanto a nivel de wafer como a nivel de die/módulo individual. El sistema FOX-CP de Aehr ofrece una solución compacta de wafer único para verificar la fiabilidad de dispositivos de lógica, memoria y fotónicos. Una oferta distintiva, el WaferPak Contactor, cuenta con una tarjeta de prueba de wafer completo exclusiva, que admite wafers de hasta 300mm, lo que permite a los fabricantes de semiconductores realizar pruebas exhaustivas a nivel de wafer y burn-in en las plataformas FOX de Aehr. Además, el DiePak Carrier proporciona un medio de empaquetado temporal y reutilizable, permitiendo a los fabricantes de CI completar los procesos de prueba final y burn-in para dies desnudos y módulos.